ICP單道掃(sao)描光(guang)譜(pu)儀的(de)高(gao)精(jing)密(mi)度

  ICP單道掃(sao)描光(guang)譜(pu)儀電子(zi)檢(jian)測(ce)系(xi)統(tong),線性動態範圍zui高可達(da)1×108,足(zu)以(yi)滿足(zu)ICP工作(zuo)曲(qu)線校(xiao)正的(de)需(xu)要(yao).zui分辯(bian)率為(wei)2.5×10-10.PMT電流(liu)測(ce)量範(fan)圍為：10-12-10-4安(an)培(pei).高(gao)品(pin)質(zhi)的(de)電子(zi)系(xi)統(tong)有助(zhu)降(jiang)低(di)儀器(qi)的(de)分(fen)析(xi)檢(jian)出(chu)限(xian)和提高(gao)精(jing)密(mi)度.他具有穩(wen)定(ding)性好,清洗(xi)速度(du)快等(deng)優點(dian).使(shi)分(fen)析速度(du)更(geng)快,數(shu)據更(geng)準(zhun)確(que).

  ICP單道掃(sao)描光(guang)譜(pu)儀采(cai)用(yong)新技術(shu),設(she)計(ji)了(le)優良(liang)的(de)檢(jian)測(ce)系(xi)統(tong)，保證了分(fen)析質(zhi)量的(de)可靠.在等離(li)子(zi)體(ti)發(fa)射(she)光(guang)譜(pu)分(fen)析中(zhong)具有非(fei)常好的(de)檢(jian)出(chu)限(xian)和任意(yi)選(xuan)擇分(fen)析元素(su)的(de)靈(ling)活(huo)性。從(cong)而(er)可分析各種(zhong)物(wu)資材(cai)料(liao)的(de)樣品(pin)成分(fen), 特別(bie)在(zai)各(ge)種(zhong)高純(chun)材(cai)料(liao)及(ji)高純(chun)稀(xi)土的(de)雜(za)質(zhi)成分(fen)分(fen)析(xi)方面(mian)更具有。該(gai)儀器(qi)在(zai)分(fen)析指標、穩定(ding)性、分析(xi)速度(du)、軟(ruan)件等(deng)各方面(mian)的(de)技(ji)術(shu)指標均達(da)到(dao)水(shui)平(ping).更(geng)多(duo)相關(guan)知(zhi)識(shi),可以與本.