ICP等離(li)子(zi)體(ti)光(guang)譜使用(yong)環(huan)境的(de)要求
更新(xin)時間(jian):2017-01-13 點(dian)擊量:2605
等離(li)子(zi)體(ti)光(guang)譜與(yu)其(qi)它型(xing)精密(mi)儀(yi)器(qi)壹(yi)樣(yang),需要在壹(yi)定的(de)環境下運行(xing),失(shi)去(qu)這(zhe)些條件,不(bu)僅儀器(qi)的(de)使用(yong)效果不(bu)好(hao),而(er)且(qie)改(gai)變儀(yi)器的(de)檢測(ce)性(xing)能(neng),甚(shen)至造(zao)成(cheng)損壞,縮短壽命。
根據(ju)光(guang)學儀(yi)器(qi)的(de)特(te)點(dian),對環境溫度和濕(shi)度(du)有壹定(ding)要求。如(ru)果溫度變(bian)化太,光(guang)學元(yuan)件受(shou)溫度變(bian)化的(de)影響就會(hui)產生譜線(xian)漂移(yi),造(zao)成(cheng)測(ce)定數(shu)據不(bu)穩定,壹(yi)般(ban)室(shi)溫要求維(wei)持(chi)在(zai)70~75攝氏度間的(de)壹個固(gu)定溫度,溫度變(bian)化應(ying)於±1攝氏度。
而環境濕(shi)度(du)過,光學元(yuan)件,特(te)別是(shi)光(guang)柵容(rong)易受(shou)潮(chao)損(sun)壞或(huo)性(xing)能(neng)降(jiang)低。電子(zi)系(xi)統(tong),尤其是(shi)印(yin)刷電路板(ban)及高壓電源(yuan)上的(de)元(yuan)件容(rong)易受(shou)潮(chao)燒(shao)壞。
濕(shi)度(du)對高頻(pin)發生器的(de)影響也(ye)十分(fen)重(zhong)要,濕(shi)度(du)過,輕則等(deng)離(li)子(zi)體(ti)不(bu)容(rong)易點(dian)燃(ran),重(zhong)則(ze)高壓電源(yuan)及高壓電路放電擊毀(hui)元(yuan)件,如(ru)功率(lv)管隔直陶(tao)瓷電容(rong)擊穿(chuan),輸出(chu)電路阻抗匹(pi)配、網(wang)絡中的(de)可變電容(rong)放電等,以(yi)至損(sun)壞高頻(pin)發生器。壹般(ban)室(shi)內(nei)濕(shi)度(du)應(ying)於百分(fen)之(zhi)70,控(kong)制(zhi)在百分(fen)之(zhi)45~60之(zhi)間(jian),應(ying)有空氣(qi)凈(jing)化裝置。過去(qu)由(you)於基建施(shi)工,我們的(de)環境條(tiao)件很(hen)差,甚(shen)至儀(yi)器(qi)不是(shi)定(ding)位(wei)困難就是(shi)經(jing)常(chang)發生故障(zhang)。搬到(dao)新(xin)的(de)儀器室後(hou)條(tiao)件改(gai)善了(le),儀器(qi)運行(xing)就正常(chang)多了(le)。