每個科(ke)研人員(yuan)都(dou)需(xu)要ICP單(dan)道(dao)掃(sao)描光(guang)譜儀

  ICP單(dan)道(dao)掃(sao)描光(guang)譜儀從光(guang)源發(fa)出的光(guang)穿(chuan)過(guo)入(ru)射狹(xia)縫後,反射到(dao)壹(yi)個(ge)可以轉(zhuan)動(dong)的(de)光(guang)柵上(shang),該光(guang)柵將(jiang)光(guang)色(se)散後(hou),經(jing)反射使某壹(yi)條(tiao)特(te)定(ding)波長的光(guang)通過(guo)出射狹(xia)縫投射到(dao)光(guang)電(dian)倍增(zeng)管(guan)上(shang)進行(xing)檢(jian)測(ce).光(guang)柵轉(zhuan)動(dong)至(zhi)某壹(yi)固(gu)定角度(du)時只(zhi)允許(xu)壹(yi)條(tiao)特(te)定(ding)波長的光(guang)線通過(guo)該出射狹(xia)縫,隨光(guang)柵角度(du)的變化，譜(pu)線(xian)從(cong)該狹(xia)縫中(zhong)依次(ci)通(tong)過(guo)並(bing)進入(ru)檢(jian)測(ce)器檢(jian)測(ce),完(wan)成(cheng)壹(yi)次(ci)全(quan)譜掃(sao)描;和多(duo)道(dao)光(guang)譜儀相(xiang)比(bi),單(dan)道(dao)掃(sao)描光(guang)譜儀波長選擇更為(wei)靈活(huo)方(fang)便，分(fen)析(xi)樣(yang)品(pin)的範圍(wei)更(geng)廣,適(shi)用(yong)於較(jiao)寬(kuan)的(de)波長範圍(wei).但由於(yu)完成(cheng)壹(yi)次(ci)掃(sao)描需(xu)要壹(yi)定(ding)時間(jian),因(yin)此(ci)分(fen)析速度(du)受到(dao)壹(yi)定(ding)限制.

  ICP單(dan)道(dao)掃(sao)描光(guang)譜儀激(ji)發(fa)光(guang)源 DGS-Ⅲ的激(ji)發(fa)光(guang)源為(wei)電(dian)子(zi)管(guan)震(zhen)蕩電(dian)路,具有(you)功率(lv)自(zi)動(dong)調(tiao)節和相(xiang)位自(zi)動(dong)匹配(pei)功能(neng),可以確(que)定該元素(su)的(de)是否(fou)存在(zai).儀器開機(ji)後,掃(sao)零級光(guang)以定位,無需(xu)汞(gong)燈(deng)進行(xing)校正,無(wu)機(ji)內恒(heng)溫(wen),以其(qi)傑出的機(ji)械和光(guang)學系統,加上(shang)出色(se)的軟件(jian)保證測(ce)量(liang)的(de)準(zhun)確(que)性(xing).