ICP光譜儀(yi)在材(cai)料檢(jian)測領域的應用(yong)

　　ICP光譜儀(yi)射頻發(fa)生(sheng)器產(chan)生的高(gao)頻功(gong)率(lv)通(tong)過(guo)感應(ying)工(gong)作(zuo)線圈(quan)加到(dao)三層同(tong)心(xin)石英炬(ju)管上，形成高(gao)頻振蕩(dang)電磁場；在石英炬(ju)管的(de)外層通(tong)入氬(ya)氣，並(bing)進行(xing)高(gao)壓(ya)放電產(chan)生帶電粒子，帶電粒子在高(gao)頻電磁場中往復(fu)運(yun)動與(yu)其(qi)他氬原(yuan)子碰(peng)撞(zhuang)，產(chan)生更多的帶電粒子，同(tong)時溫(wen)度升高(gao)，終(zhong)形成(cheng)氬(ya)氣等(deng)離子體，等(deng)離子體的(de)溫(wen)度可達6000K～8000K。待(dai)測水溶(rong)液試(shi)樣通(tong)過(guo)霧化(hua)器(qi)形(xing)成的氣溶(rong)膠(jiao)進入(ru)石(shi)英(ying)炬(ju)管中心(xin)通(tong)道(dao)，在高(gao)溫(wen)環境下(xia)受(shou)到(dao)激(ji)發(fa)，發射(she)出(chu)溶液中所(suo)含元素(su)的(de)特(te)征譜線；通(tong)過(guo)對(dui)等(deng)離子體光源進行(xing)采(cai)光，並(bing)利(li)用(yong)掃描(miao)分光器(qi)進行(xing)掃(sao)描(miao)分光，將(jiang)待(dai)測元素(su)的特(te)征譜線光強(qiang)準(zhun)確定(ding)位(wei)於出(chu)口狹(xia)縫(feng)處(chu)，利用光電倍增(zeng)管(guan)將(jiang)該(gai)譜線光強(qiang)轉變(bian)成光電流，再經電路(lu)處(chu)理和(he)模(mo)數變(bian)換(huan)後，進入(ru)計(ji)算(suan)機(ji)進行(xing)數(shu)據處(chu)理

　　ICP光譜儀(yi)，是(shi)根據試(shi)樣中被測元素(su)的原(yuan)子或離子，對(dui)各元(yuan)素(su)進行(xing)定(ding)性和定(ding)量(liang)分析(xi)的儀(yi)器；該(gai)儀(yi)器具有樣品用量(liang)少，應用(yong)範(fan)圍(wei)廣且快速(su)，靈(ling)敏和選(xuan)擇性好(hao)等(deng)特(te)點。

　　當然(ran)，該儀(yi)器也(ye)存(cun)在不能(neng)應(ying)用於(yu)有機(ji)物(wu)、對(dui)標準(zhun)試樣要求高(gao)、不宜(yi)作(zuo)個別分(fen)析的缺(que)點。其主要應用於地質普(pu)查(zha)、找(zhao)礦(kuang)；對(dui)於鋼(gang)鐵(tie)、冶(ye)金等(deng)部門(men)，可(ke)進行(xing)生(sheng)產(chan)控(kong)制分(fen)析和快(kuai)速(su)分(fen)析。特(te)別是(shi)電感耦(ou)合(he)等(deng)離子發射光源（如(ru)圖）和多通(tong)道(dao)光電直(zhi)讀光譜儀(yi)，使原(yuan)子發射光譜的應(ying)用(yong)得到(dao)了(le)迅速(su)的(de)發展。

　　ICP測試的(de)有效波長(chang)範圍(wei)是(shi)120-800nm，其中120-160nm波段(duan)尤其適用於(yu)分析(xi)鹵(lu)素(su)或者(zhe)某(mou)些(xie)特(te)殊(shu)應用的替(ti)代(dai)普(pu)線。通(tong)常測試的(de)樣品後必(bi)須保持(chi)澄(cheng)清，顆(ke)粒、懸(xuan)濁物(wu)有可(ke)能堵塞內(nei)室借(jie)口或者(zhe)通(tong)道(dao)；溶(rong)解液不能(neng)含(han)有堆(dui)壹起有損(sun)壞的成分，如(ru)HF、強(qiang)堿等(deng)；相對(dui)於ICP-MAS，ICP-AES測試的(de)級別為(wei)ug/L(ppb)。