光譜(pu)儀(yi)分(fen)辨率(lv)的(de)高低直(zhi)接影響(xiang)儀器(qi)性能

　　光譜(pu)儀(yi)分(fen)辨率(lv)是(shi)光譜(pu)分(fen)析儀器的(de)重要(yao)參數(shu)，光譜(pu)儀(yi)分(fen)辨率(lv)的(de)高低直(zhi)接影響(xiang)儀器(qi)性能。光譜(pu)儀(yi)的(de)分(fen)辨率(lv)指的(de)是(shi)光譜(pu)儀(yi)的(de)的(de)分(fen)辨精(jing)度(du)，就(jiu)是(shi)測試(shi)的(de)時候能知道光譜(pu)譜(pu)線能(neng)到(dao)什麽(me)程(cheng)度。那麽(me)影(ying)響光譜(pu)分(fen)辨率(lv)的(de)主要(yao)因素(su)有哪(na)些(xie)呢(ne)？

　　壹(yi)、檢測器(qi)

　　檢測器(qi)是(shi)光譜(pu)儀(yi)的(de)核心部(bu)分(fen)，直(zhi)接決定(ding)了光纖光譜(pu)儀(yi)的(de)光譜(pu)覆(fu)蓋(gai)範圍、靈(ling)敏度、分(fen)辨率(lv)及(ji)信(xin)噪比等指標(biao)。壹(yi)般(ban)來說，探測器的(de)材(cai)料決(jue)定(ding)了其(qi)光譜(pu)覆(fu)蓋(gai)範圍，而(er)探(tan)測(ce)器(qi)的(de)工(gong)作(zuo)原(yuan)理(li)、制(zhi)造(zao)方法(fa)及(ji)摻雜(za)材(cai)料決(jue)定(ding)了其(qi)靈(ling)敏度、覆(fu)蓋(gai)範圍和(he)信噪比等指標(biao)。

　　二(er)、光柵

　　光柵將從狹(xia)縫入射(she)的(de)光在空(kong)間上進行色(se)散(san)，使其(qi)光強度成為(wei)波長(chang)的(de)函數(shu)。它是(shi)光譜(pu)儀(yi)進行分(fen)光檢測的(de)基礎(chu)，是(shi)光譜(pu)儀(yi)的(de)核心部(bu)分(fen)。對於壹(yi)個(ge)給(gei)定(ding)的(de)光學平(ping)臺(tai)和(he)檢測器(qi)，我(wo)們可以(yi)通過選擇不(bu)同(tong)的(de)光柵來對光譜(pu)儀(yi)的(de)光譜(pu)覆(fu)蓋(gai)範圍，光譜(pu)分(fen)辨率(lv)和雜(za)散(san)光水平(ping)進行額(e)外的(de)控制(zhi)。

　　三、入(ru)射(she)狹(xia)縫

　　入射(she)狹(xia)縫直(zhi)接影響(xiang)光譜(pu)儀(yi)的(de)分(fen)辨率(lv)和光通量(liang)。光譜(pu)儀(yi)的(de)檢測器(qi)終檢測到(dao)的(de)是(shi)狹(xia)縫投射(she)到(dao)檢測器(qi)上的(de)像，因此(ci)狹(xia)縫的(de)直(zhi)接影響(xiang)到光譜(pu)儀(yi)的(de)分(fen)辨率(lv)，狹(xia)縫越，分(fen)辨率(lv)越高(gao)，狹(xia)縫越，分(fen)辨率(lv)越低(di)；另外狹(xia)縫是(shi)光進入光譜(pu)儀(yi)的(de)門(men)戶，其(qi)也(ye)直(zhi)接影響(xiang)到光譜(pu)儀(yi)的(de)光通量(liang)。狹(xia)縫越，光通量(liang)越，狹(xia)縫越，光通量(liang)越。