全自動(dong)ICP光(guang)譜(pu)儀(yi)的(de)分析(xi)原(yuan)理(li)是將(jiang)光(guang)源(yuan)輻射出(chu)的(de)待(dai)測(ce)元素(su)的(de)特(te)征光(guang)譜(pu)通過樣(yang)品(pin)的(de)蒸(zheng)汽(qi)中(zhong)待測(ce)元(yuan)素的(de)基態(tai)原子(zi)所(suo)吸收(shou),由發射光(guang)譜(pu)被(bei)減弱的(de)程度,進(jin)而求(qiu)得(de)樣(yang)品(pin)中(zhong)待測(ce)元(yuan)素的(de)含(han)量(liang)。
任何(he)元素(su)的(de)原(yuan)子(zi)都(dou)是由原子(zi)核(he)和繞核運(yun)動的(de)電子(zi)組成的(de),原(yuan)子(zi)核(he)外電子(zi)按(an)其(qi)能(neng)量的(de)高(gao)低(di)分層(ceng)分布(bu)而形(xing)成不同的(de)能(neng)級,因此(ci),壹個(ge)原(yuan)子(zi)核(he)可以(yi)具(ju)有(you)多(duo)種(zhong)能(neng)級狀(zhuang)態(tai)。能(neng)量低的(de)能(neng)級狀(zhuang)態(tai)稱為(wei)基態(tai)能(neng)級(E0=0),其余(yu)能(neng)級稱為(wei)激(ji)發態(tai)能(neng)級,而能(neng)低的(de)激(ji)發態(tai)則稱為(wei)激(ji)發態(tai)。正(zheng)常(chang)情況(kuang)下(xia),原(yuan)子(zi)處(chu)於基態(tai),核外電子(zi)在(zai)各自能(neng)量低的(de)軌(gui)道上(shang)運動(dong)。如果(guo)將壹(yi)定外界能(neng)量如光(guang)能(neng)提供給(gei)該(gai)基態(tai)原子(zi),當(dang)外界光(guang)能(neng)量E恰好等於該(gai)基態(tai)原子(zi)中(zhong)基態(tai)和某壹較(jiao)高(gao)能(neng)級之間(jian)的(de)能(neng)級差E時(shi),該(gai)原子(zi)將(jiang)吸收(shou)這(zhe)壹特(te)征波長(chang)的(de)光(guang),外層(ceng)電子(zi)由基態(tai)躍(yue)遷到(dao)相應(ying)的(de)激(ji)發態(tai),而產生(sheng)原子(zi)吸收(shou)光(guang)譜(pu)。電子(zi)躍(yue)遷到(dao)較(jiao)高(gao)能(neng)級以(yi)後(hou)處(chu)於激(ji)發態(tai),但激(ji)發態(tai)電子(zi)是不穩(wen)定的(de),約(yue)經(jing)過10^-8秒以(yi)後(hou),激(ji)發態(tai)電子(zi)將(jiang)返(fan)回(hui)基態(tai)或其(qi)它(ta)較(jiao)低(di)能(neng)級,並將(jiang)電子(zi)躍(yue)遷時(shi)所(suo)吸收(shou)的(de)能(neng)量以(yi)光(guang)的(de)形(xing)式(shi)釋(shi)放出(chu)去,這(zhe)個過程稱原子(zi)發射光(guang)譜(pu)。可(ke)見(jian)原(yuan)子(zi)吸收(shou)光(guang)譜(pu)過程吸收(shou)輻射能(neng)量,而原(yuan)子(zi)發射光(guang)譜(pu)過程則釋(shi)放輻射能(neng)量。
光(guang)譜(pu)分析(xi)就是從(cong)識別這(zhe)些(xie)元素的(de)特(te)征光(guang)譜(pu)來(lai)鑒(jian)別元素(su)的(de)存(cun)在(zai)(定性分析(xi)),而這(zhe)些(xie)光(guang)譜(pu)線的(de)強度又與試樣(yang)中(zhong)該(gai)元素(su)的(de)含(han)量(liang)有(you)關,因此(ci)又可(ke)利(li)用(yong)這(zhe)些(xie)譜線的(de)強度來(lai)測(ce)定元素的(de)含(han)量(liang)(定量分析(xi))。這(zhe)就是發射光(guang)譜(pu)分析(xi)的(de)基本(ben)依(yi)據(ju)。