溫(wen)度對於火(huo)花直讀(du)光譜儀(yi)的影(ying)響

　　火(huo)花直讀(du)光譜儀(yi)采(cai)用(yong)進(jin)口全(quan)息凹(ao)面光(guang)柵(zha)光學(xue)平(ping)臺(tai)技(ji)術，波(bo)長(chang)範(fan)圍包含(han)有(you)色(se)金(jin)屬(shu)分(fen)析所需要的全(quan)部(bu)波(bo)長(chang)選線，滿(man)足(zu)有(you)色(se)金(jin)屬(shu)行業(ye)中對常規元素(su)從(cong)微量到高(gao)含(han)量的定(ding)量需(xu)求；經過(guo)創(chuang)新設(she)計(ji)的光(guang)學(xue)系(xi)統，體積、設(she)計(ji)緊湊(cou)、穩(wen)定(ding)性好，降低(di)了有(you)效信(xin)息的損(sun)益(yi)，極的提高(gao)了分析數(shu)據的穩(wen)定(ding)性。內置(zhi)多片CCD接收(shou)器(qi)件，經過(guo)幾(ji)何(he)優化(hua)設(she)計(ji)，實現了真正意(yi)義上(shang)的全(quan)譜接收(shou)。可(ke)實現根(gen)據用(yong)戶(hu)需(xu)求(qiu)自(zi)由(you)增(zeng)減分(fen)析(xi)元素(su)，無(wu)需(xu)更(geng)改硬件。

　　火花直讀(du)光譜儀(yi)屬(shu)於精(jing)密測量儀(yi)器(qi)，光學(xue)系(xi)統微的變(bian)化(hua)（如結構件的熱(re)脹(zhang)冷縮(suo)等(deng)）即會引起(qi)很(hen)的測量誤(wu)差，因(yin)此光譜儀(yi)在設(she)計(ji)時會對光學(xue)系(xi)統進行恒(heng)溫控制。但(dan)即使如此，外(wai)界溫度(du)的變(bian)化(hua)仍會影響恒溫(wen)系(xi)統的熱(re)平(ping)衡(heng)狀態(tai)，引起(qi)測量誤(wu)差，因(yin)此為了保證(zheng)測量結(jie)果的精(jing)密度(du)，應(ying)盡(jin)可(ke)能(neng)減使(shi)用(yong)過(guo)程(cheng)中(zhong)環境(jing)溫(wen)度(du)的波(bo)動，不應(ying)超(chao)過(guo)5℃。

　　另(ling)外(wai)，多數光譜儀(yi)廠家(jia)對(dui)儀(yi)器(qi)的使(shi)用(yong)溫(wen)度(du)都(dou)有(you)嚴格(ge)的限(xian)制，壹般(ban)在10-30℃之間(jian)。先(xian)是(shi)因為儀(yi)器(qi)在工廠校(xiao)準(zhun)時的溫(wen)度(du)在20℃左右(you)，10-30℃內使(shi)用(yong)可(ke)以獲得(de)較(jiao)好的測量精(jing)度，其(qi)次(ci)儀(yi)器(qi)的部(bu)件及設(she)計(ji)在10-30℃範圍內具(ju)有(you)更高(gao)的可(ke)靠(kao)性，超(chao)出(chu)該溫度範圍使(shi)用(yong)，會引起(qi)可(ke)靠(kao)性下降，嚴重(zhong)的還(hai)會引起(qi)儀(yi)器(qi)故障；另外(wai)，光(guang)譜儀(yi)壹般(ban)把(ba)光室的溫(wen)度(du)控制在34~38℃之間(jian)的某(mou)個(ge)溫度點（不同(tong)型(xing)號儀(yi)器(qi)恒溫溫度不同(tong)），為了確保光(guang)譜儀(yi)的恒(heng)溫(wen)控制正常工(gong)作，儀(yi)器(qi)使用(yong)的環境(jing)溫(wen)度(du)必(bi)須與光(guang)譜儀(yi)恒(heng)溫溫度有(you)壹定的溫(wen)差(cha)，因此要求儀(yi)器(qi)使用(yong)環境(jing)溫(wen)度(du)低(di)於30℃。

　　因(yin)此，直讀(du)光(guang)譜儀(yi)在使用(yong)過(guo)程(cheng)中(zhong)應(ying)嚴格(ge)控制環境(jing)溫(wen)度(du)，配(pei)備足(zu)夠(gou)功(gong)率的空(kong)調系(xi)統。