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ICP儀器的(de)供(gong)電線(xian)路(lu)要(yao)符(fu)合儀器的(de)要(yao)求(qiu)
更新時間：2017-02-09 點(dian)擊(ji)量：2988
為了(le)保證ICP儀(yi)的(de)安全(quan)運行(xing)，供(gong)電線(xian)路(lu)必(bi)須(xu)要(yao)有(you)足夠的(de)容量，否則(ze)儀器運行時(shi)線(xian)路(lu)的(de)電壓(ya)降(jiang)過，影(ying)響儀(yi)器壽(shou)命。作(zuo)為(wei)壹臺(tai)精(jing)密測(ce)量儀器，它還(hai)需(xu)要(yao)有(you)相對穩(wen)定的(de)電源，供(gong)電電壓(ya)的(de)變化壹般不超過+百分(fen)之5，如超過這個範(fan)圍(wei)，需(xu)要(yao)使用(yong)自(zi)動調壓(ya)器或(huo)磁飽和(he)穩壓(ya)器，不能(neng)使用(yong)電子(zi)穩(wen)壓(ya)器，由於電子(zi)穩(wen)壓(ya)器在(zai)電壓(ya)高(gao)時(shi)產生削波(bo)，造成電脈(mai)沖(chong)，影(ying)響電子(zi)計(ji)算(suan)機、微(wei)處理(li)器及相敏放器的(de)工(gong)作(zuo)，引起誤動(dong)作(zuo)。連(lian)續正(zheng)弦(xian)波(bo)電源才能(neng)保證這(zhe)些電子(zi)電路(lu)的(de)正(zheng)常(chang)工(gong)作(zuo)，儀(yi)器供(gong)電線(xian)路(lu)單(dan)從(cong)供(gong)電變壓(ya)器的(de)配(pei)電盤(pan)上(shang)得(de)到(dao)，盡(jin)量不與(yu)電機，的(de)通(tong)風機，空(kong)調機，馬(ma)弗(fu)爐等(deng)的(de)用電設備共(gong)用(yong)壹條(tiao)供(gong)電線(xian)路(lu)，以(yi)免(mian)在(zai)這些用電設備起(qi)動(dong)時(shi)，供(gong)電線(xian)路(lu)的(de)電壓(ya)幅(fu)度(du)的(de)波動(dong)，造成儀(yi)器工(gong)作(zuo)不穩定。允(yun)許電流(liu)於30安培(pei)的(de)儀器要(yao)單(dan)接(jie)地(di)。壹般光(guang)譜儀(yi)地(di)線電阻(zu)要(yao)於5歐姆，計(ji)算(suan)機地(di)線電阻(zu)要(yao)於0.25歐姆(ASTM)標(biao)準，以(yi)防(fang)相互幹擾(rao)。
在(zai)儀器的(de)使用(yong)中，應(ying)經(jing)常(chang)註(zhu)意電源的(de)變化，不能(neng)長期(qi)在(zai)過壓(ya)或(huo)欠(qian)壓(ya)下(xia)工(gong)作(zuo)，根(gen)據資料(liao)介(jie)紹(shao)，當儀器在(zai)過壓(ya)下(xia)工(gong)作(zuo)會(hui)造成高(gao)頗發生器功(gong)率(lv)管(guan)燈(deng)絲(si)過度(du)的(de)蒸(zheng)發和老化，電子(zi)管(guan)的(de)壽(shou)命將會(hui)的(de)縮短(是(shi)正(zheng)常(chang)壽(shou)命的(de)五分(fen)之～壹六(liu)分(fen))。如果在(zai)欠(qian)壓(ya)下(xia)工(gong)作(zuo)，電子(zi)管(guan)燈(deng)絲(si)溫度(du)過低，電子(zi)發射不好，也(ye)容易造(zao)成電子(zi)發射材料(liao)過早老化，同(tong)樣也縮短電子(zi)管(guan)的(de)壽(shou)命;儀器運行中供(gong)電電壓(ya)的(de)較波動(dong)同(tong)樣也會(hui)造成高(gao)頻(pin)發生器輸出功(gong)率(lv)的(de)不穩定，對測(ce)定結果的(de)好壞(huai)影(ying)響極(ji)，因(yin)此(ci)，應當註意供(gong)電電源的(de)質量。
在(zai)儀器的(de)使用(yong)中，應(ying)經(jing)常(chang)註(zhu)意電源的(de)變化，不能(neng)長期(qi)在(zai)過壓(ya)或(huo)欠(qian)壓(ya)下(xia)工(gong)作(zuo)，根(gen)據資料(liao)介(jie)紹(shao)，當儀器在(zai)過壓(ya)下(xia)工(gong)作(zuo)會(hui)造成高(gao)頗發生器功(gong)率(lv)管(guan)燈(deng)絲(si)過度(du)的(de)蒸(zheng)發和老化，電子(zi)管(guan)的(de)壽(shou)命將會(hui)的(de)縮短(是(shi)正(zheng)常(chang)壽(shou)命的(de)五分(fen)之～壹六(liu)分(fen))。如果在(zai)欠(qian)壓(ya)下(xia)工(gong)作(zuo)，電子(zi)管(guan)燈(deng)絲(si)溫度(du)過低，電子(zi)發射不好，也(ye)容易造(zao)成電子(zi)發射材料(liao)過早老化，同(tong)樣也縮短電子(zi)管(guan)的(de)壽(shou)命;儀器運行中供(gong)電電壓(ya)的(de)較波動(dong)同(tong)樣也會(hui)造成高(gao)頻(pin)發生器輸出功(gong)率(lv)的(de)不穩定，對測(ce)定結果的(de)好壞(huai)影(ying)響極(ji)，因(yin)此(ci)，應當註意供(gong)電電源的(de)質量。
