ICP單道掃(sao)描(miao)光(guang)譜(pu)儀分光(guang)器

  ICP單(dan)道(dao)掃描光(guang)譜(pu)儀從光(guang)源發(fa)出(chu)的(de)光(guang)穿過(guo)入(ru)射狹(xia)縫(feng)後，反(fan)射到(dao)壹(yi)個(ge)可(ke)以(yi)轉(zhuan)動(dong)的(de)光(guang)柵上(shang)，該光(guang)柵將(jiang)光(guang)色散後，經反(fan)射(she)使某(mou)壹(yi)條特定(ding)波(bo)長(chang)的(de)光(guang)通(tong)過(guo)出(chu)射狹(xia)縫(feng)投(tou)射(she)到(dao)光(guang)電倍(bei)增(zeng)管(guan)上(shang)進(jin)行檢(jian)測(ce)。光(guang)柵轉(zhuan)動(dong)至(zhi)某壹(yi)固(gu)定(ding)角(jiao)度(du)時(shi)只允(yun)許(xu)壹(yi)條特定(ding)波(bo)長(chang)的(de)光(guang)線通(tong)過(guo)該出(chu)射(she)狹(xia)縫(feng)，隨光(guang)柵角(jiao)度(du)的(de)變化(hua)，譜(pu)線從該狹(xia)縫(feng)中依次通(tong)過(guo)並(bing)進入(ru)檢測(ce)器檢(jian)測，完(wan)成(cheng)壹(yi)次全(quan)譜(pu)掃(sao)描(miao);和多(duo)道光(guang)譜(pu)儀相(xiang)比，單道(dao)掃(sao)描(miao)光(guang)譜(pu)儀波長(chang)選擇更(geng)為(wei)靈(ling)活方(fang)便，分析(xi)樣品的(de)範圍更(geng)廣(guang)，適用於較(jiao)寬的(de)波長(chang)範圍。但由(you)於(yu)完(wan)成(cheng)壹(yi)次掃描(miao)需(xu)要(yao)壹(yi)定(ding)時(shi)間(jian)，因(yin)此(ci)分析(xi)速度(du)受(shou)到(dao)壹(yi)定(ding)限(xian)制(zhi)。